超高分辨冷場發射掃描電子顯微鏡
儀器名稱：超高分辨冷場發射掃描電子顯微鏡
品牌: 日立
型號：SU9000II
產地：日本
儀器介紹：
一.儀器特點：
1. 內透鏡物鏡設計，像差小,可實現超高倍觀察（SE分辨率：0.4nm@30kV）,低電壓成像能力優異（SE分辨率：1nm@1kV）；
2. 全場的冷場發射電子槍，具有Mild Flash技術;
3. 采用樣品桿進樣，快速更換樣品，高效穩定；
4. STEM和EDS性能優異，也可選配電子衍射和EELS。
二.主要用途：
兼具了掃描電鏡和部分透射電鏡的功能，主要應用在半導體、納米材料、催化劑等領域。
